Attolight AG將于2025年5月21日至22日參加在德國哈雷舉辦的CAM Workshop 2025研討會并作報告，報告題目為“利用陰極發(fā)光技術(shù)對化合物半導(dǎo)體中的缺陷進行表征”。該演講報告將探討Attolight公司先進的陰極發(fā)光技術(shù)如何能夠精確識別和分析化合物半導(dǎo)體材料中的缺陷，這對于研究和工業(yè)流程優(yōu)化都至關(guān)重要。